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Spettrofotometria di riflettanza

 

 

La spettrofotometria in riflettanza è una tecnica di analisi non invasiva in cui si illumina la superficie da analizzare con una luce di cui si conosce lo spettro e si registra la risposta spettrale della superficie.

Il rapporto tra l’intensità di luce che colpisce la superficie e quella che essa riflette è detto riflettanza percentuale (R[%]). Questa, calcolata per ogni lunghezza d’onda nel visibile, definisce il comportamento spettrale della superficie in esame. Si osserva che il comportamento spettrale è caratteristico del materiale ed è quindi impiegabile per l’indagine conoscitiva.

Si utilizza uno spettrocolorimetro a contatto CM-700d Konica Minolta con range di misura 400-700 nm; passo di misura 10 nm; area di misura 3 mm / 8 mm.

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