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Fluorescenza ai raggi x

 

 

La tecnica XRF (X-Ray Fluorescence) consente di individuare, in maniera non invasiva, gli elementi chimici costitutivi dell’area esaminata, grazie all’analisi della radiazione X emessa (la cosiddetta fluorescenza X caratteristica) in seguito ad eccitazione atomica con opportuna energia.

La radiazione caratteristica emessa viene rivelata in funzione della sua energia (EDXRF, XRF a dispersione di energia) da un rivelatore a stato solido che permette di individuare in un'unica misura tutti gli elementi rivelabili presenti nell’area analizzata.

Il sistema utilizzato è uno spettrometro portatile Bruker ARTAX 200 Micro-EDXRF con le seguenti caratteristiche: sorgente di raggi X fine focus con anodo Mo; tensione anodica regolabile da 0 a 50 kV; corrente anodica regolabile da 0 a 1500 μA (potenza massima 50 W).

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